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文章基本信息

  • 标题:Cómo ajustar modelos de datos en experimentos sobre la memoria de reconcomiendo usando métodos de máxima verosimilitud
  • 其他标题:How to fit models of recognition memory data using maximum likelihood.
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  • 作者:John C. Dunn
  • 期刊名称:International Journal of Psychological Research
  • 印刷版ISSN:2011-7922
  • 电子版ISSN:2011-2084
  • 出版年度:2010
  • 卷号:3
  • 期号:1
  • 页码:140-149
  • 语种:English
  • 出版社:Universidad De Sanbuenaventura
  • 摘要:El propósito de este artículo es proveer un tutorial sobre cómo ajustar diferentes modelos de la memoria de reconocimiento usando estimación de máxima verosimilitud. El artículo presenta cuatro partes. Primero se describe cómo se analizan y obtienen datos en experimentos sobre la memoria de reconocimiento. En segundo lugar se presentan cuatro modelos recientes que serán ajustados a los datos. La tercera parte describe en detalle cómo se ajusta un modelo usando el procedimiento de estimación de máxima verosimilitud. Por último se examina cómo el modelo ajustado pueden ser evaluado y qué pruebas estadísticas pueden aplicarse para ello.
  • 其他摘要:The aim of this paper is to provide an introductory tutorial to how to fit different models of recognition memory using maximum likelihood estimation. It is in four main parts. The first part describes how recognition memory data is collected and analysed. The second part introduces four current models that will be fitted to the data. The third part describes in detail how a model is fit using maximum likelihood estimation. The fourth part examines how the fit of a model can be evaluated and the appropriate statistical test applied.
  • 关键词:Psicología; Estadistica;memoria de reconocimiento; estimación de máxima verosimilitud; teoría de detección de señales; modelos mixtos; modelos de umbral alto
  • 其他关键词:Psyhology; Statistics;Recognition memory; maximum likelihood estimation; signal detection theory; mixture models; high threshold models
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