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文章基本信息

  • 标题:CORRESPONDÊNCIA EFICIENTE DE DESCRITORES SIFT PARA CONSTRUÇÃO DE MAPAS DENSOS DE PONTOS HOMÓLOGOS EM IMAGENS DE SENSORIAMENTO REMOTO
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  • 作者:MARCELO TEIXEIRA SILVEIRA ; RAUL QUEIROZ FEITOSA ; JORGE LUÍS NUNES SILVA BRITO
  • 期刊名称:Boletim de Ciências Geodésicas
  • 印刷版ISSN:1982-2170
  • 出版年度:2011
  • 卷号:17
  • 期号:1
  • 语种:Portuguese
  • 出版社:Universidade Federal do Paraná-UFPR
  • 摘要:Métodos automáticos de localização de pontos homólogos em imagens digitais baseados em área, combinados com técnicas de crescimento de região, são capazes de produzir uma malha densa e exata de pontos homólogos. Entretanto, o processo de crescimento de região pode ser interrompido em regiões da imagem, cuja paralaxe no eixo horizontal apresenta variação abrupta. Essa situação geralmente é causada por uma descontinuidade na superfície ou espaço-objeto imageado, tal como um prédio numa cena urbana ou um paredão de exploração de uma mina a céu aberto. Nesses casos, novos pares de pontos homólogos (sementes) devem ser introduzidos, normalmente por um operador humano, a partir dos quais o processo é reiniciado. Dependendo do tipo da imagem utilizada e da estrutura 3D da região mapeada, a intervenção humana pode ser considerável. Uma alternativa totalmente automatizada em que se combinam as técnicas SIFT (Scale Invariant Feature Transform), pareamento por mínimos quadrados e crescimento de região foi proposta anteriormente pelos autores. O presente trabalho apresenta uma extensão a essa técnica. Basicamente, propõem-se alterações na etapa de correspondência do SIFT, que exploram características de estereogramas produzidos por sensores aéreos e orbitais. Avaliações experimentais demonstram que as modificações propostas trazem dois tipos de benefícios. Em primeiro lugar, obtém-se um aumento do número de pontos homólogos encontrados, sem aumento correspondente na proporção de falsas correspondências. Em segundo lugar, a carga computacional é reduzida substancialmente.
  • 关键词:Fotogrametria;Correlação por Mínimos Quadrados; Correspondência por Mínimos Quadrados;Crescimento de Região;SIFT;LSM; MDE;MDS
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