期刊名称：Pamukkale Universitesi Egitim Fakultesi Dergisi
印刷版ISSN：1301-0085
出版年度：2020
期号：50
页码：50-69
DOI：10.9779/pauefd.585774
语种：Turkish
出版社：Pamukkale University
摘要：Bu araştırmada iki kategorili MaddeTepki Kuramı modelleri, farklı yetenek kestirim yöntemleri bağlamındaincelenmiştir. Araştırma 2015-2016 yılında 8. Sınıf öğrencilerin TEOG sınavınınmatematik alt testinde yer alan 20 maddeye verdikleri yanıtlar ışığındagerçekleştirilmiştir. Bu verilerden seçkisiz olarak seçilen 4000 yanıtlayıcı,çalışma grubunu oluşturmaktadır. Veriler üzerinden yetenek kestirimleri ve bukestirimlere ait standart hata değerleri hesaplanmıştır. Bu kestirimlertekrarlı ölçümler için iki faktörlü varyans analizi (ANOVA) kullanılarakkarşılaştırılmıştır. Araştırma bulguları 4PL modelin daha iyi uyum gösterdiğiniortaya çıkartmıştır. WLE yetenek kestirim yönteminin doğruluğu MAP ve EAPyetenek kestirim yönteminin doğruluğundan daha yüksektir. 4PL modele göre WLE,3PL modele göre MAP yetenek kestirim modelinin standart hata değeri dahadüşüktür. En yüksek marjinal güvenirlik katsayı değeri 3PL model için MAP, 4PLmodel için WLE yöntemine göre gerçekleştirilen kestirimlerden hesaplanmıştır.Araştırma bulgularına dayalı olarak 4 PL model altında WLE kestirim yönteminegöre gerçekleştirilen yetenek puanlarının doğruluğunun yüksek olduğu sonucunaulaşılmıştır.
关键词：yetenek kestirim yöntemleri;madde tepki kuramı;3PLM;4PLM
