互いに位相ロックした2周波重畳信号による, VTRの記録特性の測定法を開発し, これによりVTRテープ・ヘッド系の特性を示した.さらに, 広空隙幅記録ヘッド, 狭空隙幅再生ヘッドによるVTRの記録機構のシミュレーション実験, テープ磁化過程をモデル化した短波長記録理論により「テープ磁性層厚み方向の磁化パターンの位相推移による減磁効果」「記録機構による信号の積分効果」など, 従来明白でなかったテープ.ヘッド系の伝送特性, とくに位相特性についての考えかたを明らかにした.