イメージオルシコン用MgOターゲットに若干みられる素地の粗さの発生原因, Csを蒸着したMgO膜の反転残像消失機構, A1, Mg二重膜の蒸着および酸化過程におけるAlの結晶学的役割などを調べるため, 蒸着装置付電子顕微鏡を考案し, これを用いてMgOターゲットの製作過程における結晶構造の変化を調べ, あわせてCsを蒸着したMgO膜の電気的諸特性を測定し, 前述の問題を明らかにした.