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  • 标题:NaI(Tl)シンチレーションサーベイメータによる穀物試料の放射性セシウム測定 —環境放射線の遮へい効果とGe半導体検出器測定との相関—
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  • 作者:亀谷 宏美 ; 萩原 昌司 ; 根井 大介
  • 期刊名称:日本食品科学工学会誌
  • 印刷版ISSN:1341-027X
  • 电子版ISSN:1881-6681
  • 出版年度:2011
  • 卷号:58
  • 期号:9
  • 页码:464-469
  • DOI:10.3136/nskkk.58.464
  • 出版社:Japanese Society for Food Science and Technology
  • 摘要:

    つくば市内の研究所の環境放射線レベルを例に,NaI (Tl)シンチレーションサーベイメータによるγ線測定における環境中の放射線の鉛遮へい体による低減効果を検証した.また,大麦試料を用いて,適切な鉛遮へい体の使用条件下で,検出下限を超える正味計数率と暫定規制値以下の放射性セシウム濃度との関係に相関があることを実証した.

  • 关键词:NaI (Tl)シンチレーションサーベイメータ; 放射性セシウム; 環境放射線; 遮へい効果
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