文章基本信息
- 标题：良質米の貯蔵中の品質変化
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- 作者：豊島 英親 ; 木村 俊範 ; 吉崎 繁 等
- 期刊名称：日本食品科学工学会誌
- 印刷版ISSN：1341-027X
- 电子版ISSN：1881-6681
- 出版年度：1998
- 卷号：45
- 期号：11
- 页码：683-691
- DOI：10.3136/nskkk.45.683
- 出版社：Japanese Society for Food Science and Technology
- 摘要：
平成6年度産の10種類の米を試料として常温および低温貯蔵試験を行った結果,以下のことが明らかになった. (1) 玄米粒厚は,玄米水分や時期によって変動し,それにともなって精米特性も変化する. (2) 米飯物性測定,分光分析,糊化特性試験,TTC試験等は官能検査結果と正または負の有意の相関を示し,貯蔵による品質劣化の検知指標として提案できる. (3) 低温貯蔵は常温貯蔵に比べて品質劣化を抑制することが改めて示された.
