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2024年11月24日 星期日
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标题：
TDX IC 신뢰도 검증
本地全文：
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作者：
Sin, Seong-Mun
;
Jeong, Cheol-O
;
O, Haeng-Seok
等
期刊名称：
ETRI Journal
印刷版ISSN：
1225-6463
电子版ISSN：
2233-7326
出版年度：
1989
卷号：
11
期号：
4
页码：
3-21
语种：
Korean
出版社：
Electronics and Telecommunications Research Institute
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