出版社：Grupo de Métodos Cuantitativos, SIG y Teledetección, A.G.E
摘要：En la cartografía de riesgos existen dos componentes de carácter espacial: la definición y caracterización de las áreas expuestas, por una parte y, por otra, el análisis de la vulnerabilidad de la población y el territorio. En este artículo, la atención se centra exclusivamente en el primer componente, la exposición. Se plantea un procedimiento sencillo para establecer las zonas potencialmente expuestas a riesgos tecnológicos en el territorio. Se utilizan para ello las funciones de cálculo de distancias de un SIG, lo que permite determinar tres variables: zonas expuestas a algún riesgo, la intensidad de la exposición a riesgos en cada punto y la “probabilidad espacial” de ser afectado por un algún peligro de tipo tecnológico en la Comunidad de Madrid (España).
关键词：Riesgo tecnológico, exposición a riesgos, cartografía de riesgos, SIG, Madrid (España), Arc/Info.
