首页    期刊浏览 2024年11月26日 星期二
登录注册

文章基本信息

  • 标题:UNELE PROPRIETĂŢI OPTICE ALE STRATURILOR SUBŢIRI DE GASE ŞI GAS DOPATE CU Cu
  • 本地全文:下载
  • 作者:Petru GAŞIN ; Elmira CUCULESCU ; Igor EVTODIEV
  • 期刊名称:Studia Universitatis Moldaviae: Stiinte Sociale
  • 印刷版ISSN:1814-3199
  • 电子版ISSN:2345-1017
  • 出版年度:2007
  • 卷号:1
  • 期号:1
  • 页码:273-277
  • 出版社:Moldova State University
  • 摘要:Semiconductorii de tipul AIIIBVI se cristalizează sub formă de straturi. În fiecare împachetare stratificată atomii calcogenului şi ai metalului formează plane aranjate în ordinea Hal-Me-Me-Hal. Legăturile atomare în interiorul împachetării stratificate sunt realizate de forţe covalente, pe când între împachetări – de forţe po-larizaţionale (de tip Van-der-Waals). Legăturile de valenţă la suprafaţa împachetării stratificate în cristalele de GaS şi GaSe sunt închise, ceea ce determină o concentraţie mică a densităţii stărilor de suprafaţă. Concen-traţia mică a stărilor de suprafaţă în ansamblu cu valoarea relativ mică a coeficientului de absorbţie în banda fundamentală sunt două condiţii necesare ce determină performanţa parametrilor tehnici ai tranzistoarelor cu efect de câmp de tipul metal-semiconductor, ai tranzistorului bipolar cu heterojoncţiune [1] ş.a. Aceste cerinţe le satisfac straturile subţiri din compuşii AIIIBVI, ceea ce determină că straturile suprasubţiri de GaS şi GaSe tot mai larg se folosesc în calitate de strat de acoperire în structurile metal-semiconductor [2,3]. Îmbunătăţi-rea parametrilor tehnici ai dispozitivelor cu strat pasiv de GaS şi GaSe se prevede prin micşorarea defectelor structurale, îndeosebi în interiorul împachetării stratificate (în subreţeaua metalului). După cum s-a demonstrat în [4], doparea cristalelor de GaSe cu Cu în concentraţii mici (~ 0,1% at.) conduce la micşorarea defectelor în subreţeaua metalului şi se manifestă prin micşorarea concentraţiei nivelelor de captură cu energie mică.În lucrare se analizează spectrele de absorbţie în domeniul marginii benzii fundamentale a straturilor mono-cristaline de GaS şi GaSe dopate cu Cu, din care se determină caracterul tranziţiilor optice şi lărgimea benzii optice a acestor materiale.
国家哲学社会科学文献中心版权所有