首页    期刊浏览 2024年09月20日 星期五
登录注册

文章基本信息

  • 标题:APLIKASI 6 SIGMA DALAM MENURUNKAN MALFUNCTION DEFECT DI PENGETESAN ELEKTRIKAL (AC TRANSIENT TEST) PADA TAHAPAN PENGEMBANGAN PRODUK BLU-RAY DISC PLAYER (STUDI KASUS DI PERUSAHAAN MANUFAKTUR ELEKTRONIK)
  • 本地全文:下载
  • 作者:Dony Arief Widiatmoko ; Waseso Segoro
  • 期刊名称:MIX: Jurnal Ilmiah Manajemen
  • 印刷版ISSN:2088-1231
  • 电子版ISSN:2460-5328
  • 出版年度:2015
  • 卷号:5
  • 期号:3
  • 页码:400-417
  • 语种:
  • 出版社:Universitas Mercu Buana
  • 摘要:Penelitian dilakukan pada perusahaan yang bergerak di bidang manufaktur produk elektronik,fokus pada produk Blu-ray Disc Player.Pada proses pengembangan produk ini ditemukan permasalahan yang dominan dikarenakan pengujian elektrikal berupa malfunction yang terjadi pada pengujian AC Transient dimana kontribusinya sebesar 83% dari total permasalahan elektrikal.Penelitian ini bertujuan menentukan faktor-faktor vital dan untuk mendapatkan solusi optimal dalam mengurangi/menghilangkan permasalahan pada tahap pengembangan produk.Metode pemecahan masalah yang digunakan adalah Six SigmaDMAIC dan DOE.Penelitian menunjukkan bahwa line filter value dan spark gap distance pada PCB SMPS merupakan faktor-faktor vital yangberpengaruh terhadap malfunction defective pada pengujian AC Transient.Teknik DOE digunakan untuk menentukan nilai optimum dari faktor-faktor vital untuk mengurangi/menghilangkan defek Hasilnya,penurunan malfunction defective pada pengujian AC Transient telah tercapaidari 125000 ppm menjadi 0 ppmdan memperbaikilevel sigma dari 2.65 menjadi 6.
  • 其他摘要:The research helds inelectrical product manufacturing company,focus of the product is Blu-ray Disc Player.The dominant problem caused by electrical test at the product development process is Malfunction at AC Transient test where contribution is 83% from total electrical problem.Main objectives of this research are to determine the vital factors and provide optimal solution to reduce/elimate these problem at development stage.The problem solving methodology using Six Sigma DMAIC and DOE.The analysis indicated that line filter value and spark gap distance in the PCB SMPS are vital factors that influence the malfunction defective as AC Transient test result.The design of experiment (DOE) technique use to define the optimum values of vital factor‟s needed to reduce/eliminate the defect.As a result,a reduction of malfunction defective at AC Transient test was achieved,from 125000 ppm to 0 ppm and thus improve its Sigma level from 2.65 to 6.
  • 关键词:Penurunan defective;DMAIC;DOE;malfunction defective;pengujian AC Transient
  • 其他关键词:Defective reduction;DMAIC;DOE;malfunction defective;AC Transient test.
国家哲学社会科学文献中心版权所有