出版社：Grupo de Pesquisa Metodologias em Ensino e Aprendizagem em Ciências
摘要：A medição de relevo tridimensional (3D) tornou-se muito importante na indústria e em muitos outros sistemas produtivos. Técnica ópticas propiciam muitas características atraentes para este tipo de medida devido à sua precisão, confiabilidade, exatidão e capacidade de medir objetos pequenos e frágeis. Neste trabalho, relatamos o estudo, o desenvolvimento e o desempenho de um dispositivo óptico de baixo custo baseado na projeção de interferogramas para a medição do relevo submilimétrico de placas poliméricas que contêm texturas biomiméticas usadas na indústria automotiva. O interferograma foi gerado por um interferômetro de Twyman-Green iluminado por um laser verde emitindo em 532 nm. A medição foi feita por técnicas de deslocamento de fase (phase shifting) e deconvolução de fase (phase-unwrapping) e os resultados foram confrontados com os obtidos por um dispositivo comercial.
其他摘要：Three-dimensional (3D) contouring has become very important in industry and in many other production systems. The optical techniques provide many attractive properties for such measurement due to their precision, reliability, accuracy and ability to measure small and fragile objects. In this work we report the study, the development and the performance of a low-cost optical device based on interferogram projection in order to measure the sub-millimetric relief of polymeric plates containing biomimetic textures used in the automotive industry. The interferogram was generated by a Twyman-Green interferometer illuminated by a 532-nm green laser. The measurement was performed by means of phase-shifting and phase-unwrapping procedures and the results were benchmarked with the ones obtained by a commercial device.
关键词：Optical 3D measurement; Interferogram projection; Fringe evaluation; Interferometers.
