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标题：Measurement of Electron Density and Temperature by Means of Contamination-Free Probe
其他标题：Glass-Sealed Langmuir ProbeおよびElectron Temperature Probeによる極域電離層の観測 : 電子密度・温度の測定
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作者：Koichiro OYAMA ; Kunio HIRAO ; Shigeru MIYAZAKI 等
期刊名称：Antarctic Record
印刷版ISSN：0085-7289
电子版ISSN：2432-079X
出版年度：1975
卷号：52
DOI：10.15094/00007794
语种：English
出版社：National Institute of Polar Research
摘要：DCラングミュアプローブによる電離層電子密度・温度の測定において,電極表面の汚染の影響は,まず第一に留意しなければならない.本論文では,この電極汚染の影響をさけて信頼し得るデータを得るために開発されたガラス封入型DCラングミュアプロ-ブ(Glass-sealed Langmuir probe),および電子温度プローブ(Electron temperature probe)について概説し,あわせて,極域電離層研究への応用の可能性をさぐる.