出版社：Ivan Kozhedub Kharkiv National Air Force University
摘要：In the article the basic mechanisms of element base functional defeat of the radioelectronic systems are considered: thermal and electric hasp,effect of "palling",method of damages accumulation. The quality explaining to of effects degradation at the use of sequence of short signals is given.
其他摘要：В статье рассмотрены основные механизмы функционального поражения элементной базы радиоэлектронных систем: тепловой и электрический пробой,эффект «защелкивания»,метод накопления повреждений. Дано качественное объяснение эффектов деградации при использован
关键词：functional defeat;thermal hasp;electric hasp;degradation of radioelements
