文章基本信息
- 标题：DUV Optical Wafer Inspection System for 65-nm Technology Node
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- 作者：Kenji Watanabe ; Shunji Maeda ; Tomohiro Funakoshi 等
- 期刊名称：Hitachi Review
- 印刷版ISSN：0018-277X
- 出版年度：2005
- 卷号：54
- 期号：1
- 出版社：Hitachi Ltd
- 关键词：wafer inspection; defect inspection; bright field; optical inspection; DUV laser
