文章基本信息
- 标题：30V Process Adds Robustness to Precision Analogue Parts
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- 作者：Graham Prophet
- 期刊名称：EDN Europe
- 印刷版ISSN：1534-5483
- 电子版ISSN：1023-7364
- 出版年度：2004
- 卷号：2004
- 期号：Dec
- 出版社：Cahners Business Information
- 关键词：Industrial Designs;Silicon Processes;CMOS Transistors
