文章基本信息
- 标题：Redefining the Test Equipment Supply Chain: The Open Architecture Revolution
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- 作者：Jason Katz ; Don Edenfeld
- 期刊名称：Intel Technology Journal
- 印刷版ISSN：1535-864X
- 出版年度：2005
- 卷号：9
- 期号：3
- 出版社：Intel
- 关键词：Open Architecture;Test Equipments;Equipment Suppliers;Automated Test Industries
