文章基本信息
- 标题:Advanced Fault Isolation and Failure Analysis Techniques for Future Package Technologies
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- 作者:Mario Pacheco ; Zhiyong Wang ; Lars Skoglund 等
- 期刊名称:Intel Technology Journal
- 印刷版ISSN:1535-864X
- 出版年度:2005
- 卷号:9
- 期号:4
- 出版社:Intel
- 关键词:Failure Analysis;Moore抯 Law;Metal Migration;Intel