标题：Nano léptékben az archeometriában: új lehetőség Magyarországon a kulturális örökség tárgyainak vizsgálatában: FIB/SEM (fókuszált ionsugaras mikroszkóp/szkenning elektronmikroszkóp) kétsugaras készülék az ELTE-n = Archaeometry on the nanoscale: New possibility in Hungary in the research of cultural heritage materials: FIB/SEM (Focused Ion Beam Microscope/Scanning Electron Microscope) dual beam instrument at Eötvös Loránd University157
摘要：Abstract
In the framework of TAMOP 4.2.1. grant programme Eötvös Loránd University, Budapest has come into
possession of a FEI Quanta 3D FIB/SEM microscope. The instrument provides outstanding opportunity for high
resolution, nanoscale material research. During the current project phase (2010–2012) analysis of cultural
heritage materials will also be possible.
