摘要：В работе показана потребность в автоматической обработке снимков микро- и наноструктур. Разрабатывается метод предварительной обработки таких снимков для достоверного выделения безразрывных структур на них. Метод основан на более точном вычислении градиента яркости и подчеркивании границ образов. Приведены результаты обработки снимка наноструктуры.
