摘要:В работе рассматриваются основные современные направления исследований обработки наномасштабных снимков высокой степени детализации. Приведены примеры и описания алгоритмов, позволяющих решать задачи определения физических, химических, геометрических и структурных параметров наноматериалов; а также представлены результаты исследовательских работ, показывающих актуальность дальнейшего развития и совершенствования компьютерных методов обработки наномасштабных снимков.