摘要：Un procedimiento bayesiano en el contexto de los tests secuenciales de clasificación. El propósito de este artículo consiste en obtener reglas óptimas en los tests secuenciales de clasificación. En un test secuencial de clasificación, la decisión a tomar es clasificar a una persona como maestro, no maestro, o continuar el test y administrar el siguiente ítem. Se aplica la teoría de la decisión secuencial bayesiana; es decir, las reglas óptimas resultan de minimizar las pérdidas esperados posteriores asociadas con todas las posibles reglas de decisión en cada momento de test. La principal ventaja de este acercamiento es que los costes de aplicar el test pueden ser tenidos en cuenta de manera explícita. Se asume el modelo binomial para determinar la probabilidad de respuesta correcta dado un cierto nivel de funcionamiento de la persona. Se adopta una pérdida umbral como función de perdida. El artículo termina con un estudio de simulación en el que la estrategia secuencial bayesiana se compara con otros procedimientos disponibles en la literatura para problemas de decisión similares.
其他摘要：The purpose of this paper is to derive optimal rules for sequential mastery tests. In a sequential mastery test, the decision is to classify a subject as a master, a nonmaster, or continuing testing and administering another random item. The framework of Bayesian sequential decision theory is used; that is, optimal rules are obtained by minimizing the posterior expected losses associated with all possible decision rules at each stage of testing. The main advantage of this approach is that costs of testing can be taken explicitly into account. The binomial model is assumed for the probability of a correct response given the true level of functioning, whereas threshold loss is adopted for the loss function involved. The paper concludes with a simulation study, in which the Bayesian sequential strategy is compared with other procedures that exist for similar classification decision problems in the literature.
关键词：sequential mastery testing; Bayesian sequential rules; binomial distribution; threshold loss; most efficient strategy;Tests secuenciales de clasificación; reglas secuenciales bayesianas; distribución binomial; pérdida umbral; estrategia más eficiente
