出版社：Estación Experimental de Pastos y Forrajes "Indio Hatuey"
摘要：Con el objetivo de establecer un modelo de regresión para estimar el área de las hojas a partir de la medición del largo y el ancho de la lámina, se realizó un estudio con plantas de morera provenientes del banco de semilla de la EEPF "Indio Hatuey". Se midió el largo y el ancho de las hojas que se formaron hasta los ocho meses de edad de la plantación. Para la determinación del área, la silueta de cada hoja se calcó sobre un papel, sin causar daños ni destrucción de tejido. Las mediciones se realizaron a través un planímetro óptico. La información obtenida fue procesada estadísticamente a través de análisis de regresiones simples y múltiples mediante el programa estadístico SPSS versión 10.0. Se obtuvieron coeficientes de correlación altamente significativos para casi todos los ajustes efectuados a partir del largo y el ancho de las hojas. A través de la ecuación AF= 0,003 + 0,0073X, donde X= largo por ancho de las hojas, se obtuvo el mayor coeficiente de regresión (0,998), un R2 de 0,996, una suma de cuadrados de la regresión de 71,94 y una suma de cuadrados residual de 0,297. Se concluye que la medición del largo por ancho de la hoja y su ajuste a través del modelo lineal Y= b0 + b1X, permite estimar el área foliar para la condición de que el tamaño del óvalo foliar sea menor que 3 dm2. La alta correlación encontrada entre las mediciones lineales y el área foliar, superior a R2 = 0,99, hace apropiado y confiable este procedimiento de estimación en plantas jóvenes de morera.
其他摘要：With the objective of establishing a regression model for estimating the leaf area from the measurement of the length and width of the leaf blade, a study was carried out with mulberry plants from the seed bank of the EEPF "Indio Hatuey". The length and width of the leaves that were formed until the plantation was eight months old were measured. For the determination of the area, the silhouette of each leaf was traced on paper, without damaging or destroying the tissue. The measurements were carried out through an optical planimeter. The information obtained was statistically processed by means of simple and multiple regression analyses through the statistical program SPSS version 10.0. Highly significant correlation coefficients were obtained for almost all the adjustments performed from the length and width of the leaves. Through the equation AF = 0,003 + 0.0073X, where X = length by width of the leaves, the highest regression coefficient (0,998) was obtained, R2 of 0,996, a sum of the regression squares of 71,94 and a residual square sum of 0,297. It is concluded that the measurement of the length by width of the leaf and its adjustment by means of the lineal model Y = b0 + b1X, allows to estimate the leaf area for the condition in which the size of the leaf oval is lower than 3 dm2. The high correlation found between the lineal measurements and the leaf area, higher than R2 = 0,99, makes this estimation procedure in young mulberry plants appropriate and reliable.
