Hoje em dia as indústrias têm de colocar seus produtos em um mercado altamente competitivo, e as pressões, visando eficiência do programa de testes e do ciclo de desenvolvimento de um produto, são cada vez maiores. Neste contexto, os métodos estatísticos clássicos (baseados na teoria de amostragem), usados para analisar a confiabilidade de um produto, mostram-se cada vez menos eficientes, enquanto que os métodos bayesianos são vistos favoravelmente e seu uso começa a ser uma alternativa necessária. Para avaliar o desempenho de um item, que possui uma taxa de falhas muito baixa, as técnicas estatísticas clássicas exigem tamanhos grandes de amostra e tempo de teste longo, principalmente quando a tecnologia do produto limita o fator de aceleração, como é o caso dos produtos eletrônicos, por exemplo. A metodologia, proposta neste artigo, combina resultados de testes, que são realizados rotineiramente durante o ciclo de desenvolvimento, com informação adicional relevante e útil ao estabelecimento da confiabilidade do equipamento. Com o objetivo de ilustrar a metodologia, esta é aplicada em um equipamento eletrônico, cuja confiabilidade foi estabelecida, durante sua fase de projeto, a partir das confiabilidades de seus componentes, utilizando dados de teste por atributo e incorporando o julgamento da equipe de desenvolvimento do produto.

Nowadays industries have to place their products in a highly competitive market, and there have been increasing pressures on efficiency test programs and product development cycles. In this context, the classical statistical methods (based on sampling theory), which are used to analyze product reliability, are negatively affected, while the bayesian methods are favorably regarded, and their use is becoming a necessary alternative. In order to evaluate the performance of an item with a very low failure rate, the classical statistical techniques require a large sample size and a long test time. This is particularly true when the product technology limits the acceleration factor, as with electronic products, for example. The methodology proposed in this paper combines test results, which are routinely performed during the product development cycle, with additional relevant information that is useful in the assessment of its reliability. In order to illustrate the methodology, it was applied to an electronic equipment, assessing its reliability during the design phase. The computations were performed considering component reliabilities, attribute test data, and also judgement of the product development team.