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2篇

出版年度

	2013	1篇
	2011	1篇

作者

	Danković Danijel M.	2篇
	Davidović Vojkan S.	2篇
	Golubović Snežana M.	2篇
	Manić Ivica Đ.	2篇
	Stojadinović Ninoslav D.	2篇

Đorić-Veljković Snežana M.

2篇

来源期刊

Nuclear Technology and Radiation Protection

2篇

学科主题

原子能技术

2篇

语种

英文

2篇

国别/地区

塞尔维亚

2篇

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共 2 条记录

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1.The comparison of gamma-radiation and electrical stress influences on oxide and interface defects in power VDMOSFET

作　　者：Đorić-Veljković Snežana M. ;Manić Ivica Đ. ;Davidović Vojkan S. 等

出　　处：Nuclear Technology and Radiation Protection. 2013 ;28(4):406-414.doi:10.2298/NTRP1304406D

出版社：VINČA Institute of Nuclear Sciences

文章 ID：90459023

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2.Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs

作　　者：Đorić-Veljković Snežana M. ;Manić Ivica Đ. ;Davidović Vojkan S. 等

出　　处：Nuclear Technology and Radiation Protection. 2011 ;26(1):18-24.doi:10.2298/NTRP1101018D

出版社：VINČA Institute of Nuclear Sciences

文章 ID：79822984

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1

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