1.H104 適切な電磁界の測定・評価 : 不適切な測定による悪影響 : VDT健康影響関連情報の公開(4)

作　　者：三浦正悦 ;山室栄三 ;横田等等

出　　处：産業衛生学雑誌. 2005 ;47(Special):424.doi:10.1539/sangyoeisei.KJ00003804058

出版社：Japan Society for Occupational Health

文章 ID：207672416

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2.H101 VDT関連用語の適切な使用 : 「眼精疲労」と「テクノストレス」 : VDT健康影響関連情報の公開(1)

作　　者：山室栄三 ;三浦正悦 ;横田等等

出　　处：産業衛生学雑誌. 2005 ;47(Special):421.doi:10.1539/sangyoeisei.KJ00003804055

出版社：Japan Society for Occupational Health

文章 ID：207626365

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3.H102 VDT関連情報公開の推進 : WHO201・ICNIRPなど文書の翻訳とウェブ公開 : VDT健康影響関連情報の公開(2)

作　　者：横田等 ;山室栄三 ;三浦正悦等

出　　处：産業衛生学雑誌. 2005 ;47(Special):422.doi:10.1539/sangyoeisei.KJ00003804056

出版社：Japan Society for Occupational Health

文章 ID：207626368

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4.H103 VDT機器の適切な使用 : 眼の疲労を少なくするためのフリッカ防止等 : VDT健康影響関連情報の公開(3)

作　　者：山崎了司 ;山室栄三 ;三浦正悦等

出　　处：産業衛生学雑誌. 2005 ;47(Special):423.doi:10.1539/sangyoeisei.KJ00003804057

出版社：Japan Society for Occupational Health

文章 ID：207626371

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	三浦正悦	4篇
	中野義彦	4篇
	山室栄三	4篇
	山崎了司	4篇
	横田等	4篇

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