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1篇

出版年度

2018

1篇

作者

	Andrey Zhukov	1篇
	Anton Azin	1篇
	Anton Narikovich	1篇
	Sergey Ponomarev	1篇
	Sergey Rikkonen	1篇

Vladimir Leitsin

1篇

文章类型

Research Article

1篇

来源期刊

MATEC Web of Conferences

1篇

语种

英文

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Anton Narikovich")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Nondestructive testing method for a new generation of electronics

作　　者：Anton Azin ;Andrey Zhukov ;Anton Narikovich 等

出　　处：MATEC Web of Conferences. 2018 ;143.doi:10.1051/matecconf/201814304007

出版社：EDP Sciences

文章 ID：1017186652

文章详细

1

电话：010-85195300

E-mail：cassoa@cass.org.cn

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

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