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1篇

出版年度

2016

1篇

作者

	Bidush Kumar Sahoo	1篇
	Mitrabinda Ray	1篇

来源期刊

Journal of Software

1篇

学科主题

计算机软件

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

芬兰

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Bidush Kumar Sahoo")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Concurrent Defects and Test Coverage Criteria

作　　者：Bidush Kumar Sahoo ;Mitrabinda Ray

出　　处：Journal of Software. 2016 ;11(10):994-1007.doi:10.17706/jsw.11.10.994-1007

出版社：Academy Publisher

文章 ID：264868299

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