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1篇

出版年度

2004

1篇

作者

	Chang, Sung-Keun	1篇
	Jeon, Seong-Do	1篇
	Lee, Jung-Hwan	1篇

来源期刊

ETRI Journal

1篇

学科主题

	应用物理学	1篇
	电信	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

韩国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Chang, Sung-Keun")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Effect of Shield Line on Noise Margin and Refresh Time of Planar DRAM Cell for Embedded Application

作　　者：Lee, Jung-Hwan ;Jeon, Seong-Do ;Chang, Sung-Keun

出　　处：ETRI Journal. 2004 ;26(6):583-583.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421658

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