1.The microstructural study of swift heavy 75MeV Oxygen-ion and 100MeV Ag-ion irradiated PVDF thin films by atomic force microscopy.

作　　者：Rana, Dinesh Singh ;Chaturvedi, D.K. ;Quamara, J.K.

出　　处：International Journal of Applied Engineering Research. 2009 ;(June).

出版社：Research India Publications

文章 ID：184903928

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