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1篇

出版年度

2004

1篇

作者

	Cho, Sang-Bock	1篇
	Kang, Dong-Chual	1篇
	Park, Sung-Min	1篇

来源期刊

ETRI Journal

1篇

学科主题

	应用物理学	1篇
	电信	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

韩国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Cho, Sang-Bock")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.An Efficient Built-in Self-Test Algorithm for Neighborhood Pattern- and Bit-Line-Sensitive Faults in High-Density Memories

作　　者：Kang, Dong-Chual ;Park, Sung-Min ;Cho, Sang-Bock

出　　处：ETRI Journal. 2004 ;26(6):520-520.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421651

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