首页期刊浏览 2024年11月13日星期三

登录注册

全文

有本地全文

1篇

出版年度

2002

1篇

作者

	Cho Teh	1篇
	Gongyuan Qu	1篇
	Sally L. Wood	1篇

来源期刊

EURASIP Journal on Advances in Signal Processing

1篇

学科主题

电子计算机的应用

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

英国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Cho Teh")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Wafer Defect Detection Using Directional Morphological Gradient Techniques

作　　者：Gongyuan Qu ;Sally L. Wood ;Cho Teh

出　　处：EURASIP Journal on Advances in Signal Processing. 2002 ;2002(7):686-703.doi:10.1155/S1110865702204035

出版社：Hindawi Publishing Corporation

文章 ID：27728358

文章详细全文下载

1

电话：010-85195300

E-mail：cassoa@cass.org.cn

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

扫一扫关注微信

联系我们|关于我们|网站声明

国家哲学社会科学文献中心版权所有