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2篇

出版年度

	2013	1篇
	2011	1篇

作者

	Gaurav Saini	2篇
	Ashwani K Rana	1篇
	Kestina Rai	1篇

来源期刊

	International Journal of Advanced Research In Computer Science and Software Engineering	1篇
	International Journal of VLSI Design & Communication Systems	1篇

学科主题

计算技术、计算机技术

2篇

语种

英文

2篇

国别/地区

印度

2篇

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共 2 条记录

排序：全选导出：

1.Software Testing Techniques for Test Cases Generation

作　　者：Gaurav Saini ;Kestina Rai

出　　处：International Journal of Advanced Research In Computer Science and Software Engineering. 2013 ;3(9).

出版社：S.S. Mishra

文章 ID：88520058

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2.Physical Scaling Limits of FinFET Structure: A Simulation Study

作　　者：Gaurav Saini ;Ashwani K Rana

出　　处：International Journal of VLSI Design & Communication Systems. 2011 ;2(1).

出版社：Academy & Industry Research Collaboration Center (AIRCC)

文章 ID：86826353

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