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1篇

出版年度

2018

1篇

作者

	Ashutosh Kumar Singh	1篇
	Hari Mohan Gaur	1篇
	Umesh Ghaneka	1篇

来源期刊

Defence Science Journal

1篇

学科主题

军事

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

印度

1篇

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共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Design for Stuck-at Fault Testability in MCT based Reversible Circuits

作　　者：Hari Mohan Gaur ;Ashutosh Kumar Singh ;Umesh Ghaneka

出　　处：Defence Science Journal. 2018 ;68(4):381-387.

出版社：Defence Scientific Information & Documentation Centre

文章 ID：223915695

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1

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