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1篇

出版年度

2019

1篇

作者

	Hee Yeon Noh	1篇
	Hyeon-Jun Lee	1篇
	Hyunki Lee	1篇
	June-Seo Kim	1篇
	Katsumi Abe	1篇

Myoung-Jae Lee

1篇

来源期刊

Scientific Reports

1篇

学科主题

自然科学总论

1篇

语种

英文

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国别/地区

英国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Hee Yeon Noh")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Analysis of the hump phenomenon and needle defect states formed by driving stress in the oxide semiconductor

作　　者：Hyeon-Jun Lee ;Katsumi Abe ;Hee Yeon Noh 等

出　　处：Scientific Reports. 2019 ;9(1):1-9.doi:10.1038/s41598-019-48552-z

出版社：Springer Nature

文章 ID：244233492

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