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4篇

出版年度

	2019	1篇
	2017	2篇
	2016	1篇

作者

	Hyeon-Jun Lee	3篇
	Katsumi Abe	3篇
	Myoung-Jae Lee	3篇
	Albina Y. Borisevich	1篇
	Do Young Noh	1篇

	Hee Yeon Noh	1篇
	Hu Young Jeong	1篇
	Hyeon Jun Lee	1篇
	Hyunki Lee	1篇
	Jeong Hun Kwak	1篇
	Ji Young Jo	1篇
	Jun Seo Kim	1篇
	June-Seo Kim	1篇
	Minkyung Jung	1篇
	Owoong Kwon	1篇
	Su Yong Lee	1篇
	Sung Haeng Cho	1篇
	Sung Su Lee	1篇
	Young-Min Kim	1篇
	Yunseok Kim	1篇

来源期刊

Scientific Reports

4篇

学科主题

自然科学总论

4篇

语种

英文

4篇

国别/地区

英国

4篇

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共 4 条记录

排序：全选导出：

1.Analysis of the hump phenomenon and needle defect states formed by driving stress in the oxide semiconductor

作　　者：Hyeon-Jun Lee ;Katsumi Abe ;Hee Yeon Noh 等

出　　处：Scientific Reports. 2019 ;9(1):1-9.doi:10.1038/s41598-019-48552-z

出版社：Springer Nature

文章 ID：244233492

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2.Electron-blocking by the potential barrier originated from the asymmetrical local density of state in the oxide semiconductor

作　　者：Hyeon-Jun Lee ;Katsumi Abe ;Jun Seo Kim 等

出　　处：Scientific Reports. 2017 ;7(1):17963.doi:10.1038/s41598-017-18420-9

出版社：Springer Nature

文章 ID：230256667

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3.Depth resolved lattice-charge coupling in epitaxial BiFeO3 thin film

作　　者：Hyeon Jun Lee ;Sung Su Lee ;Jeong Hun Kwak 等

出　　处：Scientific Reports. 2016 ;6(1).doi:10.1038/srep38724

出版社：Springer Nature

文章 ID：235866011

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4.Impact of transient currents caused by alternating drain stress in oxide semiconductors

作　　者：Hyeon-Jun Lee ;Sung Haeng Cho ;Katsumi Abe 等

出　　处：Scientific Reports. 2017 ;7(1).doi:10.1038/s41598-017-10285-2

出版社：Springer Nature

文章 ID：235893433

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