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1篇

出版年度

2017

1篇

作者

	Byoung-Deog Choi	1篇
	Dong-Su Ko	1篇
	Dongjin Lee	1篇
	Eunae Cho	1篇
	Gyung-Su Park	1篇

	Hee Jae Kang	1篇
	Hyo Sug Lee	1篇
	Hyoungsun Park	1篇
	Hyung-Ik Lee	1篇
	Jai Kwang Shin	1篇
	Jieun Lee	1篇
	Kyoungho Jung	1篇
	Moonyoung Jeong	1篇
	Satoru Yamada	1篇
	Sung Heo	1篇
	Yong Koo Kyoung	1篇
	Yong Su Kim	1篇

来源期刊

Scientific Reports

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学科主题

自然科学总论

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语种

英文

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国别/地区

英国

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共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Direct evidence of flat band voltage shift for TiN/LaO or ZrO/SiO2 stack structure via work function depth profiling

作　　者：Sung Heo ;Hyoungsun Park ;Dong-Su Ko 等

出　　处：Scientific Reports. 2017 ;7(1).doi:10.1038/srep43561

出版社：Springer Nature

文章 ID：235904112

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