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1篇

出版年度

2020

1篇

作者

	Jeong, EuiSeob	1篇
	Kim, Byung-Keun	1篇
	Og, Joo Young	1篇
	Paprocki, Rafal	1篇
	Pawelec, Krzysztof	1篇

来源期刊

Journal of Open Innovation: Technology, Market, and Complexity

1篇

语种

英文

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Kim, Byung-Keun")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Measuring Patent Value Indicators with Patent Renewal Information

作　　者：Og, Joo Young ;Pawelec, Krzysztof ;Kim, Byung-Keun 等

出　　处：Journal of Open Innovation: Technology, Market, and Complexity. 2020 ;6(1):1-16.doi:10.3390/joitmc6010016

出版社：Springer

文章 ID：1034343855

文章详细

1

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