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1篇

出版年度

1992

1篇

作者

	Go, Jae-Sang	1篇
	Jeong, Cheol-O	1篇
	Kim, Chang-Hui	1篇
	Kim, Jong-Min	1篇
	Lee, Jong-Suk	1篇

来源期刊

ETRI Journal

1篇

学科主题

	应用物理学	1篇
	电信	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

韩国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Kim, Chang-Hui")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.운용데이타에 의한 부품 고장률 분석 및 예측고장률과의 비교 분석

作　　者：Jeong, Cheol-O ;Kim, Jong-Min ;Kim, Chang-Hui 等

出　　处：ETRI Journal. 1992 ;14(4):97-105.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422063

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