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1篇

出版年度

2006

1篇

作者

	A. Shaughnessy	1篇
	B. Leon	1篇
	J. Branch	1篇
	J.C. Rasser	1篇
	M. Cousté	1篇

	M. Kochupillai	1篇
	M. Sakamoto	1篇
	M.A. Smith	1篇
	R. Jarvis	1篇
	T. Hield	1篇

来源期刊

Harvard Journal of Law and Technology

1篇

学科主题

法律

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

美国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("M. Cousté")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Artibration of Patent Infringement and Validity Issues Worldwide

作　　者：M.A. Smith ;M. Cousté ;T. Hield 等

出　　处：Harvard Journal of Law and Technology. 2006 ;19(02).

出版社：William S Hein

文章 ID：46167369

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