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2篇

出版年度

	2016	1篇
	2015	1篇

作者

	Bouchra Ananou	2篇
	Mariam Melhem	2篇
	Mustapha Ouladsine	2篇
	Jacque Pinaton	1篇
	Jacques Pinaton	1篇

Mohand Djeziri

1篇

文章类型

Research Article

2篇

来源期刊

IFAC PapersOnLine

2篇

语种

英文

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Mariam Melhem")))) )) ) )"

共 2 条记录

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1.Regression Methods for Predicting the Product’s Quality in the Semiconductor Manufacturing Process * * This work is part of the European project "INTEGRATE", and carried by ST-microelectronics Fab.

作　　者：Mariam Melhem ;Bouchra Ananou ;Mustapha Ouladsine 等

出　　处：IFAC PapersOnLine. 2016 ;49(12):83-88.doi:10.1016/j.ifacol.2016.07.554

出版社：Elsevier

文章 ID：1006266542

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2.Prediction of the Wafer quality with respect to the production equipments data ★ ★ This work is part of the European project “INTEGRATE”, and carried by ST-microelectronics Fab.

作　　者：Mariam Melhem ;Bouchra Ananou ;Mohand Djeziri 等

出　　处：IFAC PapersOnLine. 2015 ;48(21):78-84.doi:10.1016/j.ifacol.2015.09.508

出版社：Elsevier

文章 ID：1005932600

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1

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