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1篇

出版年度

2010

1篇

作者

	Michael J. Haugh	1篇
	Richard Stewart	1篇

来源期刊

X-Ray Optics and Instrumentation

1篇

学科主题

物理

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

美国

1篇

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共 1 条记录

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1.Measuring Curved Crystal Performance for a High-Resolution, Imaging X-Ray Spectrometer

作　　者：Michael J. Haugh ;Richard Stewart

出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2010 ;2010.doi:10.1155/2010/583626

出版社：Hindawi Publishing Corporation

文章 ID：33224908

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