首页期刊浏览 2024年11月11日星期一

登录注册

全文

有全文链接

2篇

出版年度

2015

2篇

作者

	Bouchra Ananou	2篇
	Mohand Djeziri	2篇
	Mustapha Ouladsine	2篇
	Jacque Pinaton	1篇
	Jacques Pinaton	1篇

	Mariam Melhem	1篇
	Thi-Bich-Lien Nguyen	1篇

文章类型

Research Article

2篇

来源期刊

IFAC PapersOnLine

2篇

语种

英文

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Mohand Djeziri")))) )) ) )"

共 2 条记录

排序：全选导出：

1.Prediction of the Wafer quality with respect to the production equipments data ★ ★ This work is part of the European project “INTEGRATE”, and carried by ST-microelectronics Fab.

作　　者：Mariam Melhem ;Bouchra Ananou ;Mohand Djeziri 等

出　　处：IFAC PapersOnLine. 2015 ;48(21):78-84.doi:10.1016/j.ifacol.2015.09.508

出版社：Elsevier

文章 ID：1005932600

文章详细
2.Remaining Useful Life estimation for noisy degradation trends

作　　者：Thi-Bich-Lien Nguyen ;Mohand Djeziri ;Bouchra Ananou 等

出　　处：IFAC PapersOnLine. 2015 ;48(21):85-90.doi:10.1016/j.ifacol.2015.09.509

出版社：Elsevier

文章 ID：1005932601

文章详细

1

电话：010-85195300

E-mail：cassoa@cass.org.cn

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

扫一扫关注微信

联系我们|关于我们|网站声明

国家哲学社会科学文献中心版权所有