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2篇

出版年度

2015

2篇

作者

	Bouchra Ananou	2篇
	Mohand Djeziri	2篇
	Mustapha Ouladsine	2篇
	Jacque Pinaton	1篇
	Jacques Pinaton	1篇

	Mariam Melhem	1篇
	Thi-Bich-Lien Nguyen	1篇

文章类型

Research Article

2篇

来源期刊

IFAC PapersOnLine

2篇

语种

英文

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Mohand Djeziri")))) )) ) )"

共 2 条记录

排序：全选导出：

1.Prediction of the Wafer quality with respect to the production equipments data ★ ★ This work is part of the European project “INTEGRATE”, and carried by ST-microelectronics Fab.

作　　者：Mariam Melhem ;Bouchra Ananou ;Mohand Djeziri 等

出　　处：IFAC PapersOnLine. 2015 ;48(21):78-84.doi:10.1016/j.ifacol.2015.09.508

出版社：Elsevier

文章 ID：1005932600

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2.Remaining Useful Life estimation for noisy degradation trends

作　　者：Thi-Bich-Lien Nguyen ;Mohand Djeziri ;Bouchra Ananou 等

出　　处：IFAC PapersOnLine. 2015 ;48(21):85-90.doi:10.1016/j.ifacol.2015.09.509

出版社：Elsevier

文章 ID：1005932601

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1

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