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4篇

出版年度

	1999	1篇
	1998	1篇
	1997	1篇
	1991	1篇

作者

	Nam, Kee-Soo	4篇
	Baek, Kyu-Ha	2篇
	Park, Jong-Moon	2篇
	Yoon, Yong-Sun	2篇
	Chun, Chang-Hwan	1篇

	Kang, Jin-Yeong	1篇
	Kim, Chang-Il	1篇
	Kim, Geun-Hong	1篇
	Kim, Jung-Dae	1篇
	Koo, Jin-Gun	1篇
	Kwon, Kwang-Ho	1篇
	Lee, Gyeong-Su	1篇
	Lee, Sang-Yong	1篇
	Park, Mun-Yang	1篇

来源期刊

ETRI Journal

4篇

学科主题

	应用物理学	4篇
	电信	4篇

语种

英文

4篇

国别/地区

韩国

4篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Nam, Kee-Soo")))) )) ) )"

共 4 条记录

排序：全选导出：

1.Corrosion at the Grain Boundary and a Fluorine-Related Passivation Layer on Etched Al-Cu (1%) Alloy Surfaces

作　　者：Baek, Kyu-Ha ;Yoon, Yong-Sun ;Park, Jong-Moon 等

出　　处：ETRI Journal. 1999 ;21(3):16-16.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421915

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2.Integration of 5-V CMOS and High-Voltage Devices for Display Driver Applications

作　　者：Kim, Jung-Dae ;Park, Mun-Yang ;Kang, Jin-Yeong 等

出　　处：ETRI Journal. 1998 ;20(1):37-37.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421947

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3.An Amorphous Silicon Local Interconnection (ASLI) CMOS with Self-Aligned Source/Drain and Its Electrical Characteristics

作　　者：Yoon, Yong-Sun ;Baek, Kyu-Ha ;Park, Jong-Moon 等

出　　处：ETRI Journal. 1997 ;19(4):402-402.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421957

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4.Effect of Annealing on the Dielectric Properties and Microstructures of Thin Tantalum Oxide Film Deposited with RF Reactive Sputtering

作　　者：Lee, Gyeong-Su ;Nam, Kee-Soo ;Chun, Chang-Hwan 等

出　　处：ETRI Journal. 1991 ;13(2):21-27.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422106

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