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2篇

出版年度

	2010	1篇
	2008	1篇

作者

	Kang, Sung-Ho	2篇
	Park, Young-Kyu	2篇
	Han, Tae-Woo	1篇
	Jeong, Woo-Sik	1篇
	Kim, Yong-Joon	1篇

	Lee, Dae-Yeal	1篇
	Yang, Myung-Hoon	1篇

来源期刊

ETRI Journal

2篇

学科主题

	应用物理学	2篇
	电信	2篇

语种

英文

2篇

国别/地区

韩国

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Park, Young-Kyu")))) )) ) )"

共 2 条记录

排序：全选导出：

1.High Repair Efficiency BIRA Algorithm with a Line Fault Scheme

作　　者：Han, Tae-Woo ;Jeong, Woo-Sik ;Park, Young-Kyu 等

出　　处：ETRI Journal. 2010 ;32(4):642-644.doi:10.4218/etrij.10.0210.0097

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114420960

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2.An Effective Test and Diagnosis Algorithm for Dual-Port Memories

作　　者：Park, Young-Kyu ;Yang, Myung-Hoon ;Kim, Yong-Joon 等

出　　处：ETRI Journal. 2008 ;30(4):555-564.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421210

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