作 者:S. J. Chin ;M. Z. A. Abd. Aziz ;M. R. Ahmad
出 处:International Journal of Electrical and Computer Engineering. 2018 ;8(1):189-197.doi:10.11591/ijece.v8i1.pp189-197
出 版 社:Institute of Advanced Engineering and Science (IAES)
文 章 ID:218174483