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1篇

出版年度

2012

1篇

作者

	Singh, M. M	1篇
	Singh, P. J	1篇
	Tiwari, P. M.	1篇

来源期刊

International Journal of Electronics Communication and Computer Engineering

1篇

学科主题

计算技术、计算机技术

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

印度

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Singh, M. M")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Impact of MOSFET Non Ideal Characteristic Breakdown on Digital Circuit Operation and Reliability.

作　　者：Tiwari, P. M. ;Singh, M. M ;Singh, P. J

出　　处：International Journal of Electronics Communication and Computer Engineering. 2012 ;3(4):818-822.

出版社：IJECCE

文章 ID：144794849

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