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1篇

出版年度

2015

1篇

作者

	A.Sathish Kumar	1篇
	G.Mohanraj	1篇
	S.Saravanan	1篇
	T.Jeeva	1篇

来源期刊

International Journal of Innovative Research in Science, Engineering and Technology

1篇

学科主题

社会学

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

印度

1篇

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共 1 条记录

排序：全选导出：

1.A Low Transition Test Pattern Generation of Multiple SIC Vectors Based on Bist Schemes

作　　者：T.Jeeva ;G.Mohanraj ;A.Sathish Kumar 等

出　　处：International Journal of Innovative Research in Science, Engineering and Technology. 2015 ;(MULTICON):422.

出版社：S&S Publications

文章 ID：181616136

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