首页期刊浏览 2025年04月23日星期三

登录注册

全文

有本地全文

1篇

出版年度

2008

1篇

作者

	Krzysztof Jan Kurzydłowski	1篇
	Krzysztof Rożniatowski	1篇
	Tomasz Wejrzanowski	1篇
	Wojciech Leon Spychalski	1篇

来源期刊

International Journal of Applied Mathematics and Computer Science

1篇

学科主题

计算技术、计算机技术

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

波兰

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Wojciech Leon Spychalski")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Image based analysis of complex microstructures of engineering materials

作　　者：Tomasz Wejrzanowski ;Wojciech Leon Spychalski ;Krzysztof Rożniatowski 等

出　　处：International Journal of Applied Mathematics and Computer Science. 2008 ;18(1).doi:10.2478/v10006-008-0003-1

出版社：De Gruyter Open

文章 ID：181614985

文章详细全文下载

1

电话：010-85195300

E-mail：cassoa@cass.org.cn

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

扫一扫关注微信

联系我们|关于我们|网站声明

国家哲学社会科学文献中心版权所有