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2篇

出版年度

	2009	1篇
	2008	1篇

作者

	Kang, Sung-Ho	2篇
	Yang, Myung-Hoon	2篇
	Cho, Hyung-Jun	1篇
	Jeong, Woo-Sik	1篇
	Kim, Yong-Joon	1篇

	Lee, Dae-Yeal	1篇
	Park, Young-Kyu	1篇

来源期刊

ETRI Journal

2篇

学科主题

	应用物理学	2篇
	电信	2篇

语种

英文

2篇

国别/地区

韩国

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Yang, Myung-Hoon")))) )) ) )"

共 2 条记录

排序：全选导出：

1.A Novel BIRA Method with High Repair Efficiency and Small Hardware Overhead

作　　者：Yang, Myung-Hoon ;Cho, Hyung-Jun ;Jeong, Woo-Sik 等

出　　处：ETRI Journal. 2009 ;31(3):339-341.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421123

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2.An Effective Test and Diagnosis Algorithm for Dual-Port Memories

作　　者：Park, Young-Kyu ;Yang, Myung-Hoon ;Kim, Yong-Joon 等

出　　处：ETRI Journal. 2008 ;30(4):555-564.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421210

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